基本信息
书名:光电检测技术与应用(第二版)
定价:25.00元
作者:郭培源
出版社:北京航空航天大学出版社
出版日期:2011-08-01
ISBN:9787512403987
字数:
页码:
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:0.341kg
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内容提要
本书系统全面地介绍了光电检测技术的基本概念、各种光电检测器件的工作原理及其特性和典型应用。《光电检测技术与应用(第2版)》共分9章,主要内容包括绪论、光电检测器件工作原理及特性、半导体光电检测器件及应用、光电信号检测电路、光电直接检测系统、光外差检测系统、光纤传感检测技术、光电信号的数据采集与微机接口、光电检测技术的典型应用。
本书注重理论与实际相结合,一方面注重光电检测技术的基本概念和基本原理的讲述,另一方面着重介绍光电检测技术的应用成果。《光电检测技术与应用(第2版)》既可作为高等院校的光电信息工程、光电子科学与技术、测控技术与仪器、机械电子工程、生物医学工程、光机电一体化等专业的本科生及研究生教学用书,也可作为相关专业的科研人员和工程技术人员的参考用书。
目录
章 绪论
1.1 信息技术与光电检测技术
1.2 光电检测与光电传感器概念
1.2.1 检测与测量的概念
1.2.2 光电传感器与敏感器的概念
1.3 光电检测系统的组成及特点
1.4 光电检测方法及应用发展趋势
思考题与习题
第2章 光电检测器件工作原理及特性
2.1 光电检测器件的物理基础
2.1.1 光电导效应
2.1.2 杂质光电导效应
2.1.3 光生伏特效应
2.1.4 光热效应
2.2 光电检测器件的特性参数
思考题与习题
第3章 半导体光电检测器件及应用
3.1 光敏电阻
3.1.1 光敏电阻的结构及其工作原理
3.1.2 光敏电阻特性参数
3.1.3 光敏电阻的应用
3.2 光生伏特器件
3.2.1 光电池
3.2.2 光电二极管与光电三极管
3.2.3 发光器件
3.2.4 光电耦合器件
3.2.5 光电位置敏感器件
3.2.6 光热辐射检测器件
3.2.7 各种光电检测器件的性能比较
思考题与习题
第4章 光电信号检测电路
4.1 光电检测电路的设计要求
4.2 光电信号输入电路的静态计算
4.2.1 恒流源型器件光电信号输入电路
4.2.2 光伏型器件光电信号输入电路
4.2.3 可变电阻型器体光电信号输入电路
4.3 光电信号检测电路的动态计算
4.3.1 光电信号输入电路的动态计算
4.3.2 光电检测电路的频率特性
4.4 光电信号检测电路的噪声
4.4.1 检测电路的噪声等效处理
4.4.2 典型光电检测电路的噪声估算
4.5 前置放大器
4.5.1 放大器的噪声
4.5.2 前置放大器的低噪声设计
4.5.3 检测器件和放大电路的连接
4.6 光电检测电路举例
思考题与习题
第5章 光电直接检测系统
5.1 光电直接检测系统的基本工作原理
5.2 光电直接检测系统的基本特性
5.2.1 直接检测系统的信噪比
5.2.2 直接检测系统的检测极限及趋近方法
5.2.3 直接检测系统的视场角
5.2.4 系统的通频带宽度
5.3 直接检测系统的距离方程
5.3.1 被动检测系统的距离方程
5.3.2 主动检测距离方程
5.4 光电直接检测系统举例
5.4.1 莫尔条纹测长仪
……
第6章 光外差检测系统
第7章 光纤传感检测技术
第8章 光电信号的数据采集与微机接口
第9章 光电检测技术的典型应用
参考文献
作者介绍
文摘
序言
我之前一直在从事工业自动化领域的工作,对于光电检测的应用场景有着非常广泛的了解,但总觉得在理论深度上有所欠缺。这本《光电检测技术与应用(第二版)》正好弥补了我的这一遗憾。它在讲解每一项技术时,都会深入到其背后的物理原理,例如,在介绍激光雷达(LiDAR)的原理时,书中不仅仅罗列了常见的TOF(Time-of-Flight)和FMCW(Frequency Modulated Continuous Wave)两种体制,而是详细阐述了它们各自的优缺点、信号处理方法以及在不同应用场景下的适用性。我曾经在某个自动驾驶感知系统的项目中,就遇到过关于如何选择合适的LiDAR方案的难题。这本书中对不同LiDAR技术的精度、测距范围、扫描速率以及抗干扰能力的详细对比分析,直接帮助我们做出了更优化的技术决策,并且为我们后续的系统集成和算法开发奠定了坚实的基础。
评分这本书在光电检测系统的设计方面,也给出了非常系统性的指导。它不仅仅是列举各种元器件,而是从整体设计的角度出发,考虑如何进行系统集成、如何优化参数、如何进行性能评估。我记得在一次项目中,我们需要设计一个用于目标识别的光电传感器系统,其中涉及到图像采集、特征提取和目标分类等多个环节。在书中关于图像处理和模式识别的部分,作者详细介绍了各种图像增强算法、边缘检测算法以及常见的分类器(如SVM、神经网络)的原理和适用场景。更重要的是,它还讨论了不同算法在实时性、计算量和识别精度上的权衡,以及如何在硬件资源有限的情况下进行最优选择。这对于我们这些需要平衡性能和成本的设计者来说,是无价的。
评分我是一名刚刚接触光电领域的学生,原本对这个学科充满了好奇,但又觉得很多概念都比较抽象,不容易理解。直到我读了这本《光电检测技术与应用(第二版)》,才真正感觉找到了指路明灯。作者在讲解每一个原理的时候,都会从最基础的物理概念讲起,比如,在介绍光电倍增管时,它会先从真空管的工作原理讲起,然后引入光电阴极、倍增极等概念,一步步地构建起整个器件的工作模型。并且,书中还配有大量的示意图和实际产品照片,这让我更容易将抽象的理论与具体的硬件联系起来。我尤其喜欢书中关于低照度成像技术的部分,它详细介绍了各种提高信噪比的方法,比如热噪声抑制、读出噪声降低以及信号平均等,这些内容对于我未来从事相关的科研工作非常有帮助。
评分作为一名在光学仪器研发一线摸爬滚打多年的老兵,手里头过的教材和参考书也不少了。这本《光电检测技术与应用(第二版)》,可以说是近期让我眼前一亮的一本。它在内容编排上,有一个显著的特点,就是将理论和实践紧密结合。不是那种“两张皮”的写法,而是让你在学习基础概念的同时,就能立刻看到这些概念是如何在实际应用中落地生根的。我印象最深的是关于光纤传感器的部分。书中不仅仅介绍了不同类型光纤传感器的基本原理,比如布拉格光栅(FBG)、马赫-曾德尔干涉仪(MZI)等,还详细阐述了它们在温度、压力、应变等物理量的测量精度上的差异,以及在恶劣环境下(如高温、高压、腐蚀性介质)的应用考量。这对于我们这些需要开发能在各种复杂工况下工作的传感器的工程师来说,是极其宝贵的经验。
评分坦白说,我一开始拿到这本《光电检测技术与应用(第二版)》并没有抱太高的期望,市面上同类书籍实在太多,很多都只是老调重弹。然而,当我翻开第三章关于激光测距技术的部分,我立刻被吸引住了。作者不仅详细介绍了脉冲激光测距和相位式激光测距的原理,还深入分析了影响测量精度的各种因素,比如大气湍流、目标表面反射率、探测器响应时间以及信号处理算法等。让我印象深刻的是,书中提供了一种基于卡尔曼滤波的噪声抑制方法,在实际应用中,这种方法确实能显著提高弱信号的测量稳定性。我曾在某个项目的早期阶段,尝试过简单的阈值判别法来提取回波信号,效果非常差,总是误判。这本书的出现,简直是雪中送炭,让我对如何构建一个更鲁棒的激光测距系统有了全新的认识。
评分这本书给我的感觉是,它不仅仅是一本教科书,更像是一本经验宝典。作者在理论讲解的同时,穿插了大量的工程实践案例,这些案例的细节之丰富,让我仿佛置身于实验室或生产线上。举个例子,在讲述CCD和CMOS成像传感器时,书中详细对比了它们在像素结构、读出方式、功耗以及噪声特性上的差异,并结合实际应用场景,如高速摄影、低照度成像等,分析了不同类型传感器的优劣势。我曾经在设计一款用于野外科学考察的便携式光谱仪时,就纠结于应该选择CCD还是CMOS。这本书里关于动态范围、量子效率以及响应速度的详细对比分析,直接帮助我做出了更合理的硬件选型,大大缩短了前期技术论证的时间。而且,它在讲解过程中,还会提到一些行业内的“潜规则”或者说是一些经验性的技巧,这些是纯理论书籍很难学到的。
评分作为一个长期在光学工程领域摸爬滚打的工程师,手捧这本《光电检测技术与应用(第二版)》,感觉就像找到了失散多年的战友,里面的内容,很多都是我曾经在项目中最头疼、最需要解决的关键问题。我尤其欣赏这本书在基础理论讲解上的扎实,它没有简单地堆砌公式,而是深入浅出地阐述了各个光电检测原理背后的物理机制。比如,在谈到光电导效应时,作者花了大量篇幅解释了半导体材料的能带结构、载流子产生与复合过程,以及光照强度如何影响其电导率。我记得在一次红外成像系统的开发中,我们曾因为对探测器材料的本征吸收和缺陷吸收理解不够透彻,导致背景噪声抑制效果一直不理想。翻看这本书,关于不同掺杂浓度和晶体缺陷对探测器性能的影响,以及如何通过退火等工艺手段来优化材料的电学和光学特性,给了我非常清晰的思路和改进方向。
评分这本书对于理解光电检测系统中的关键组件,比如各类光源(LED、激光器)和探测器(光电二极管、光电倍增管、CMOS/CCD等)的特性,以及它们之间的匹配关系,有非常独到的见解。我特别欣赏作者在分析不同类型光电探测器时的细致入微。例如,在讨论光电倍增管(PMT)时,书中不仅介绍了其工作原理,还细致地分析了其在不同电压下的增益、暗电流、响应速度以及空间分辨率等参数的变化趋势,并且给出了选择PMT时需要考虑的实际问题,比如高压电源的稳定性、抗磁场干扰等。我曾经在设计一个微弱荧光信号检测系统时,就因为对PMT的增益饱和效应理解不足,导致在信号强度稍大时测量结果失真。这本书的这部分内容,让我茅塞顿开,并及时调整了系统设计,避免了严重的后果。
评分一直以来,我对一些更抽象的光学概念,比如相干性、衍射等,总觉得有些难以把握,特别是当它们与实际的检测应用联系起来时。然而,这本《光电检测技术与应用(第二版)》在这方面做得非常出色。它用通俗易懂的语言,结合大量生动的图示,将这些复杂的物理现象解释得淋漓尽致。例如,在讲全息术部分,作者并没有停留在理论公式的推导,而是花了很大的篇幅来讲解如何选择合适的记录介质,如何控制曝光和显影过程,以及不同类型全息图(如体藏全息图、表面全息图)在应用上的区别。这对于我理解如何设计高精度的三维成像系统,或者如何制作用于防伪的光学元件,都提供了非常清晰的指导。我曾经在尝试制作一些微纳结构的衍射光学元件时,屡屡失败,总是达不到预期的衍射效率。翻看这本书,关于衍射效率与光栅线宽、衍射级次以及光栅材料折射率等参数的关系分析,以及如何通过优化光刻和刻蚀工艺来提高衍射效率,对我来说简直是醍醐灌顶。
评分对于我这种在光电检测领域摸索多年的老工程师来说,时不时地回头梳理一下基础理论,以及了解最新的技术发展动向,是保持技术先进性的重要途径。这本《光电检测技术与应用(第二版)》在这两方面都做得相当到位。它在基础理论部分,对经典的光电检测原理进行了深入的剖析,例如,在讲解光电导效应时,作者不仅给出了详细的物理模型,还讨论了不同半导体材料(如CdS、CdSe、PbS等)的光电特性,以及它们在不同光谱范围的应用。让我印象深刻的是,书中还提到了关于光电探测器饱和效应和弛豫时间对测量精度的影响,这在我进行高速、高灵敏度信号检测时,是非常关键的考量点。
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