包郵 X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 自然科學 物理學 理論物 epub pdf mobi txt 電子書 下載 2024

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商品參數

X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門
	定價	45.80
	齣版社	中國建材工業齣版社
	版次	1
	齣版時間	2016年06月
	開本	16開
	作者	鄭振環，李強
	裝幀	平裝-膠訂
	頁數
	字數
	ISBN編碼	9787516014561
	重量	194

內容介紹
　　Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例，包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。

目錄

第1章　Rietveld法結構精修

　1.1　Rietveld法結構精修發展概況

　1.2　Rietveld法基本原理

　1.3　參數修正順序與結果判據

　　1.3.1　 參數修正的順序

　　1.3.2　 精修的數值判據

　　1.3.3　 精修的圖示判斷

　1.4　精修過程齣現的問題和對策

　1.5　Rietveld法結構精修的應用

　　1.5.1　 修正晶體結構

　　1.5.2　 相變研究和點陣常數測定

　　1.5.3　 物相定量分析

　　1.5.4　 晶粒尺寸和微應變測定

 

第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹

　2.1　GSAS軟件簡介

　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝

　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹

　　2.3.1　 菜單欄

　　2.3.2　 選項卡界麵

　　2.3.3　 EXPGUI幫助內容

 

第3章　EXPGUI-GSAS結構精修起步

　3.1　精修前的準備工作

　　3.1.1　 衍射數據的測定

　　3.1.2　 衍射數據的轉換

　　3.1.3　 初始結構的獲取

　3.2　EXPGUI精修簡單示例

　　3.2.1　 生成EXP文件

　　3.2.2　 精修過程

　　3.2.3　 常見問題

　3.3　精修結果提取與繪圖

　　3.3.1　 精修結果提取

　　3.3.2　 精修圖譜繪圖

 

第4章　EXPGUI-GSAS提高練習

　4.1　儀器參數文件的建立

　　4.1.1　 基本知識

　　4.1.2　 操作過程

　4.2　物相（含非晶）定量分析

　　4.2.1　 基本原理

　　4.2.2　 衍射數據測試

　　4.2.3　 精修過程

　4.3　Le Bail法擬閤以及約束的使用

　　4.3.1　 問題描述

　　4.3.2　 精修過程

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