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商品参数

X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门
	定价	45.80
	出版社	中国建材工业出版社
	版次	1
	出版时间	2016年06月
	开本	16开
	作者	郑振环，李强
	装帧	平装-胶订
	页数
	字数
	ISBN编码	9787516014561
	重量	194

内容介绍
　　Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。

目录

第1章　Rietveld法结构精修

　1.1　Rietveld法结构精修发展概况

　1.2　Rietveld法基本原理

　1.3　参数修正顺序与结果判据

　　1.3.1　 参数修正的顺序

　　1.3.2　 精修的数值判据

　　1.3.3　 精修的图示判断

　1.4　精修过程出现的问题和对策

　1.5　Rietveld法结构精修的应用

　　1.5.1　 修正晶体结构

　　1.5.2　 相变研究和点阵常数测定

　　1.5.3　 物相定量分析

　　1.5.4　 晶粒尺寸和微应变测定

 

第2章　EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍

　2.1　GSAS软件简介

　2.2　EXPGUI-GSAS软件的安装

　2.3　EXPGUI-GSAS软件界面介绍

　　2.3.1　 菜单栏

　　2.3.2　 选项卡界面

　　2.3.3　 EXPGUI帮助内容

 

第3章　EXPGUI-GSAS结构精修起步

　3.1　精修前的准备工作

　　3.1.1　 衍射数据的测定

　　3.1.2　 衍射数据的转换

　　3.1.3　 初始结构的获取

　3.2　EXPGUI精修简单示例

　　3.2.1　 生成EXP文件

　　3.2.2　 精修过程

　　3.2.3　 常见问题

　3.3　精修结果提取与绘图

　　3.3.1　 精修结果提取

　　3.3.2　 精修图谱绘图

 

第4章　EXPGUI-GSAS提高练习

　4.1　仪器参数文件的建立

　　4.1.1　 基本知识

　　4.1.2　 操作过程

　4.2　物相（含非晶）定量分析

　　4.2.1　 基本原理

　　4.2.2　 衍射数据测试

　　4.2.3　 精修过程

　4.3　Le Bail法拟合以及约束的使用

　　4.3.1　 问题描述

　　4.3.2　 精修过程

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