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集成基准源电路设计:从二极管到高阶带隙基准源 epub pdf  mobi txt 电子书 下载

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[美] Gabriel Alfonso Rincon-Mora 著,黄晓宗 译

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发表于2024-04-20

商品介绍



出版社: 科学出版社
ISBN:9787030367143
商品编码:11206780
包装:平装
开本:16开
出版时间:2013-03-01
用纸:胶版纸
页数:152
正文语种:中文

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书籍描述

内容简介

  《集成基准源电路设计:从二极管到高阶带隙基准源》分为5章。第1章描述了参考源的基本原理以及模拟电路的基础知识;第2章分析了参考电流源的设计,包括基本的CMOSPTAT电路和复杂的biCMOS电流源;第3章在前两章的基础上,讲解了电压参考源的设计,包含了从零阶到高阶补偿电路的实现;第4章分析了高精度基准源设计的考虑因素,包括工艺偏差、负载效应和工作环境等;第5章从工程和应用的角度讨论了修调、版图设计和封装等对电路性能的影响。《集成基准源电路设计:从二极管到高阶带隙基准源》内容全面,包含了从参考源设计的理论基础到工程实践的全部内容。分析深刻、实用性强,具有一定的指导意义。

目录

绪 论
chapter 1 基础知识
1.1 二极管
1.1.1 击穿区域
1.1.2 正向偏置区域
1.2 电流镜
1.2.1 简单电流镜
1.2.2 共源共栅电流镜
设计实例 1.1
1.2.3 调整型共源共栅电流镜
1.3 小 结
附录二 极管电压的温度特性
参考文献
chapter 2 电流基准源
2.1 PTAT电流基准源
2.1.1 双极工艺实现方式
2.1.2 CMOS实现方式
2.2 启动电路和频率补偿
2.2.1 连续导通启动电路
2.2.2 与电路状态有关的启动电路
2.2.3 频率补偿
2.3 CTAT电流基准源
2.4 与温度无关的电流基准源
2.5 PTAT2电流源产生电路
2.5.1 双极工艺实现方式
2.5.2 CMOS工艺实现方式
设计实例 2.1
2.6 小结
参考文献
chapter 3 电压基准源
3.1 零阶基准源
3.1.1 正向偏置二极管基准源
3.1.2 齐纳电压基准源
设计实例 3.1
3.2 一阶基准源
3.2.1 正向偏置二极管基准源
3.2.2 齐纳基准源
设计实例 3.2
3.3 二阶电压基准源(曲率校正)
3.4 曲率校正技术当前的发展情况
3.4.1 与温度相关电阻比例技术
3.4.2 二极管环路技术
3.4.3 β补偿技术
3.4.4 分段线性电流模技术
3.4.5 非线性匹配校正(Matched―Nonlinear Correction)
3.4.6 精确补偿方法
3.5 小 结
参考文献
chapter 4 高精度基准源电路的设计
4.1 误差来源
4.1.1 定性的影响
设计实例 4.1
4.2 输出级
4.2.1 电压模式输出级
4.2.2 电流模式输出级
4.2.3 混合模式输出级
4.2.4 稳压基准源和未稳压基准源
设计实例 4.2
4.3 电源电压抑制和线性调整性能的设计
4.3.1 共源共栅技术
4.3.2 伪电源电压技术
设计实例 4.3
4.4 小结
附录1 典型一阶带隙基准源的误差来源
附录2 电阻温度系数对电流模式输出级基准源的影响
参考文献
chapter 5 系统和应用环境分析
5.1 修调网络的设计
5.1.1 修调范围
5.1.2 修调技术
设计实例 5.1
5.2 封装应力的影响
5.3 系统相关的问题
5.3.1 电路设计考虑
5.3.2 版图设计考虑
设计实例 5.2
5.4 特征描述
5.5 小结
附录1 带有混合模式(同时具有电压和电流模式)输出级的带隙基准源的修调流程
附录2 封装应力对带隙基准源电路的影响
附录3 基准源电路对输人阶跃信号的有限冲激响应所需时间的讨论
参考文献

前言/序言


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读者评价

评分

这些年来,集成电路持续向更小的外型尺寸发展,使得每个芯片可以封装更多的电路。这样增加了每单位面积容量,可以降低成本和增加功能-见摩尔定律,集成电路中的晶体管数量,每两年增加一倍。总之,随着外形尺寸缩小,几乎所有的指标改善了-单位成本和开关功率消耗下降,速度提高。但是,集成纳米级别设备的IC不是没有问题,主要是泄漏电流(leakage current)。因此,对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显,制造商面临使用更好几何学的尖锐挑战。这个过程和在未来几年所期望的进步,在半导体国际技术路线图中有很好的描述。

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做基准的可以学习一下

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中规模集成电路

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这些年来,集成电路持续向更小的外型尺寸发展,使得每个芯片可以封装更多的电路。这样增加了每单位面积容量,可以降低成本和增加功能-见摩尔定律,集成电路中的晶体管数量,每两年增加一倍。总之,随着外形尺寸缩小,几乎所有的指标改善了-单位成本和开关功率消耗下降,速度提高。但是,集成纳米级别设备的IC不是没有问题,主要是泄漏电流(leakage current)。因此,对于最终用户的速度和功率消耗增加非常明显,制造商面临使用更好几何学的尖锐挑战。这个过程和在未来几年所期望的进步,在半导体国际技术路线图中有很好的描述。

评分

越来越多的电路以集成芯片的方式出现在设计师手里,使电子电路的开发趋向于小型化、高速化。越来越多的应用已经由复杂的模拟电路转化为简单的数字逻辑集成电路。

评分

对基准源的设计进行了总结,虽然内容不是很新,还是有一定帮助的

评分

这书简直了、烂透

评分

书不错,翻译得太差,图错误不少。

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还没读完,读完再来评价

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