$高等學校經典暢銷教材·材料X射綫衍射與電子顯微分析：材料分析測試技術（第2版） [Analysis Methods in Materials Science:X-ray Diffraction and Electron Microscopy in Materials Science]$

高等學校經典暢銷教材·材料X射綫衍射與電子顯微分析：材料分析測試技術（第2版） [Analysis Methods in Materials Science:X-ray Diffraction and Electron Microscopy in Materials Science] pdf epub mobi txt 電子書下載 2025

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周玉，武高輝著

圖書標籤:

材料科學
X射綫衍射
電子顯微鏡
材料分析
測試技術
結構錶徵
材料錶徵
XRD
SEM
TEM

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齣版社：哈爾濱工業大學齣版社

ISBN：9787560313382

版次：2

商品編碼：11110927

包裝：平裝

外文名稱：Analysis Methods in Materials Science:X-ray Diffraction and Electron Microscopy in Materials Science

開本：16開

齣版時間：2

具體描述

內容簡介

《高等學校經典暢銷教材·材料X射綫衍射與電子顯微分析：材料分析測試技術（第2版）》介紹瞭用x射綫衍射和電子顯微技術分析材料微觀組織結構的原理、設備及試驗方法。內容包括：x射綫衍射方嚮與強度、多晶體分析方法及x射綫衍射儀、物相分析、宏觀應力測定、晶體的極射赤麵投影、多晶體織構分析、透射電鏡結構與原理、復型技術、電子衍射、衍襯成像、掃描電鏡結構與原理、電子探針顯微分析等。同時，簡要介紹瞭離子探針、低能電子衍射、俄歇電子能譜儀、掃描隧道與原子力顯微鏡及x射綫光電子能譜儀等顯微分析方法，書末配有實驗指導和附錄。書中的實例分析注重引入瞭材料微觀組織結構分析方麵的新成果。
《高等學校經典暢銷教材·材料X射綫衍射與電子顯微分析：材料分析測試技術（第2版）》可作為材料科學與工程學科的本科生教材或教學參考書，也可供從事材料研究及分析檢測方麵工作的技術人員參考。

內頁插圖

第0章緒論

第1章 X射綫的性質
1.1 引言
1.2 X射綫的本質
1.3 X射綫的産生及X射綫管
1.4 X射綫譜
1.5 X射綫與物質的相互作用
1.6 X射綫的安全防護
習題

第2章 X射綫衍射方嚮
2.1 引言
2.2 晶體幾何學基礎
2.3 衍射的概念與布拉格方程
2.4 X射綫衍射方嚮
2.5 X射綫衍射方法
習題

第3章 X射綫衍射強度
3.1 引言
3.2 結構因子
3.3 多晶體的衍射強度
3.4 積分強度計算舉例
習題

第4章多晶體分析方法
4.1 引言
4.2 粉末照相法
4.3 X射綫衍射儀
4.4 衍射儀的測量方法與實驗參數
4.5 點陣常數的精確測定及其誤差分析
習題

第5章 X射綫物相分析
5.1 引言
5.2 定性分析的原理和分析思路
5.3 粉末衍射卡片的組成
5.4 PDF卡片的索引
5.5 物相定性分析方法
5.6 物相定量分析
習題

第6章宏觀應力測定
6.1 引言
6.2 單軸應力測定原理
6.3 平麵應力測定原理
6.4 試驗方法
6.5 試驗精度的保證及測試原理的適用條件
習題

第7章晶體的極射赤麵投影
7.1 球麵投影
7.2 極射赤麵投影和吳裏夫網
7.3 極射赤麵投影的性質及其應用
7.4 晶帶的極射赤麵投影
7.5 標準投影圖
習題

第8章多晶體織構分析
8.1 冷拉金屬絲織構的測定
8.2 絲織構的極圖和反極圖
8.3 闆織構極圖晶體投影原理及其織構測定
8.4 冷軋闆織構的測定
8.5 極圖的分析與標定
習題
第9章電子光學基礎
9.1 電子波與電磁透鏡
9.2 電磁透鏡的像差與分辨率
9.3 電磁透鏡的景深和焦長
習題

第10章透射電子顯微鏡
10.1 透射電子顯微鏡的結構與成像原理
10.2 主要部件的結構與工作原理
10.3 透射電子顯微鏡分辨率和放大倍數的測定
習題

第11章復型技術
11.1 概述
11.2 質厚襯度原理
11.3 一級復型和二級復型
11.4 萃取復型與粉末樣品
習題

第12章電子衍射
12.1 概述
12.2 電子衍射原理
12.3 電子顯微鏡中的電子衍射
12.4 單晶體電子衍射花樣標定
12.5 復雜電子衍射花樣
習題

第13章晶體薄膜衍襯成像分析
13.1 概述
13.2 薄膜樣品的製備
13.3 衍襯成像原理
13.4 消光距離
13.5 衍襯運動學簡介
13.6 晶體缺陷分析
習題

第14章掃描電子顯微鏡
14.1 電子束與固體樣品作用時産生的信號
14.2 掃描電子顯微鏡的構造和工作原理
14.3 掃描電子顯微鏡的主要性能
14.4 錶麵形貌襯度原理及其應用
14.5 原子序數襯度原理及其應用
14.6 背散射電子衍射分析及其應用
習題

第15章電子探針顯微分析
15.1 電子探針儀的結構與工作原理
15.2 電子探針儀的分析方法及應用
習題

第16章其他顯微分析方法簡介
16.1 離子探針
16.2 低能電子衍射
16.3 俄歇電子能譜儀
16.4 場離子顯微鏡
16.5 掃描隧道顯微鏡（STM）與原子力顯微鏡(AFM）
16.6 X射綫光電子能譜儀
習題

實驗指導
實驗一 X射綫晶體分析儀介紹及單相立方晶係物質粉末相計算
實驗二利用X射綫衍射儀進行多相物質的相分析
實驗三透射電子顯微鏡的結構、樣品製備及觀察
實驗四掃描電子顯微鏡、電子探針儀結構與樣品分析

附錄
主要參考文獻