數字集成電路測試優化 李曉維 epub pdf  mobi txt 電子書 下載

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李曉維 著

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發表於2024-05-15

商品介绍



店鋪: 典則俊雅圖書專營店
齣版社: 科學齣版社
ISBN:9787030278944
商品編碼:29839548148
包裝:精裝
齣版時間:2010-06-01

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書籍描述

  圖書基本信息,請以下列介紹為準
書名數字集成電路測試優化
作者李曉維
定價58.00元
ISBN號9787030278944
齣版社科學齣版社
齣版日期206-01
版次1

  其他參考信息(以實物為準)
裝幀:精裝開本:16開重量:0.740
版次:1字數:頁碼:
  插圖

  目錄

  內容提要
本書內容涉及數字集成電路測試優化的三個主要方麵:測試壓縮、測試功耗優化、測試調度。包括測試數據壓縮的基本原理,激勵壓縮的有效方法,測試響應壓縮方法和電路結構;測試功耗優化的基本原理,靜態測試功耗優化方法,動態測試功耗優化;測試壓縮與測試功耗協同優化方法;測試壓縮與測試調度協同優化方法;並以産64位高性能處理器(龍芯2E和2F)為例介紹瞭相關成果的應用。
全書闡述瞭作者及其科研團隊自主創新的研究成果和結論,對緻力於數字集成電路測試與設計研究的科研人員(尤其是在讀研究生)具有較大的學術參考價值,也可用作集成電路專業的高等院校教師、研究生和高年級本科生的教學參考書。

  編輯推薦

  作者介紹

  序言

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