納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測 epub pdf mobi txt 電子書 下載 2024

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基本信息

書名：納米CMOS集成電路中的小延遲缺陷檢測

定價：59.90元

作者：桑迪普 K.戈埃爾

齣版社：機械工業齣版社

齣版日期：2016-01-01

ISBN：9787111521846

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：平裝

開本：16開

商品重量：0.4kg

編輯推薦

內容提要

設計方法和工藝技術的革新使得集成電路的復雜度持續增加。現代集成電路（IC）的高復雜度和納米尺度特徵極易使其在製造過程中産生缺陷，同時也會引發性能和質量問題。本書包含瞭測試領域的許多常見問題，比如製程偏移、供電噪聲、串擾、電阻性開路/電橋以及麵嚮製造的設計（DfM）相關的規則違例等。本書也旨在講述小延遲缺陷（SDD）的測試方法，由於SDD能夠引起電路中的關鍵路徑和非關鍵路徑的瞬間時序失效，對其的研究和篩選測試方案的提齣具有重大的意義。
本書分為4個部分：部分主要介紹瞭時序敏感自動測試嚮量生成（ATPG）；第2部分介紹全速測試，並且提齣瞭一種超速測試的測試方法用於檢測SDD；第3部分介紹瞭一種SDD測試的替代方案，可以在ATPG和基於電路拓撲的解決方案之間進行摺衷；第4部分介紹瞭SDD的測試標準，以量化的指標來評估SDD覆蓋率。本書內容由簡入深，對SDD測試全麵展開，有助於提高讀者的理解和掌握。
本書結閤瞭高校科研人員、電子設計自動化（EDA）工具研發人員以及電路設計人員三方視角進行編寫，是一部針對SDD測試進行多角度全方位分析的書籍。本書適閤從事微電子領域芯片測試相關專業的工程師、微電子專業高校師生和研究人員以及對芯片測試領域感興趣的讀者閱讀。對於當今工業設計、SDD測試領域的研究挑戰以及當今SDD解決方案的發展方嚮，本書都可作為一站式參考書。

目錄

譯者序
原書前言
關於主編
作者名單
章小延遲缺陷測試的基本原理
1.1簡介
1.2半導體製造中的趨勢和挑戰
1.2.1製程復雜度
1.2.2工藝參數變化
1.2.3性與係統性缺陷
1.2.4功耗和時序優化的含義
1.2.5良率、質量和故障覆蓋率的相互作用
1.3已有測試方法與更小幾何尺寸的挑戰
1.3.1連綫固定型故障模型
1.3.2橋接型故障模型
1.3.3n檢測
1.3.4過渡故障模型
1.3.5路徑延遲故障模型
1.3.6測試實現和適應性測試
1.4小延遲對過渡測試的影響
參考文獻
部分時序敏感ATPG
第2章K長路徑
2.1簡介
2.2組閤電路的路徑生成
2.2.1精煉的隱含的假路徑消除
2.3組閤電路的實驗結果
2.4擴展成時序電路的基於掃描的全速測試
2.5掃描電路的路徑生成
2.5.1掃描式觸發器上的含義
2.5.2非掃描式存儲上的約束
2.5.3終辯護
2.6掃描電路的實驗結果
2.6.1健壯測試
2.6.2與過渡故障測試的對比
2.7小結
參考文獻
第3章時序敏感ATPG
3.1簡介
3.2延遲計算和質量度量
3.2.1延遲計算
3.2.2延遲測試質量度量
3.3確定性測試生成
3.3.1包含時序信息的測試生成
3.3.2包含時序信息的故障仿真
3.4測試質量和測試成本之間的摺衷
3.4.1基於餘量裕度的捨棄
3.4.2時序關鍵故障
3.5實驗結果
參考文獻
第2部分超速
第4章篩選小延遲缺陷的超速測試
4.1簡介
4.2設計實現
4.3測試模式延遲分析
4.3.1在功能性速度下的動態電壓降分析
4.3.2針對超速測試的動態電壓降分析
4.4超速測試技術敏感的電壓降
4.4.1模式分組
4.4.2性能降低ΔT′Gi的估算
4.5實驗結果
4.6小結
4.7緻謝
參考文獻
第5章考慮版圖、工藝偏差和串擾的電路路徑分級
5.1簡介
5.1.1SDD檢測的商業方法
5.1.2SDD檢測的學術建議
5.2分析因偏差引起的SDD
5.2.1工藝偏差對路徑延遲的影響
5.2.2串擾對路徑延遲的影響
5.3TDF模式評估與選擇
5.3.1路徑PDF分析
5.3.2模式選擇
5.4實驗結果與分析
5.4.1模式選擇效率的分析
5.4.2模式集分析
5.4.3長路徑閾值分析
5.4.4CPU運行時間分析
5.5小結
5.6緻謝
參考文獻
第3部分替 代 方 案
第6章基於輸齣偏差的SDD測試
6.1簡介
6.2替代方案的必要性
6.3SDD的概率性延遲故障模型以及輸齣偏差
6.3.1輸齣偏差的方法
6.3.2對工業電路的實用層麵以及適用性
6.3.3與基於SSTA的技術的比較
6.4仿真結果
6.4.1實驗設置和標準
6.4.2仿真結果
6.4.3原始的方法與改進後的方法的比較
6.5小結
6.6緻謝
參考文獻
第7章小延遲缺陷的混閤/補充測試模式生成方案
7.1簡介
7.2時序敏感ATPG的故障集
7.3小延遲缺陷模式生成
7.3.1方法1：TDF 補充SDD
7.3.2方法2：補充SDD 補充TDF
7.4實驗結果
7.5小結
參考文獻
第8章針對小延遲缺陷的基於電路拓撲的測試模式生成
8.1簡介
8.2基於電路拓撲的故障選擇
8.3SDD模式生成
8.4實驗結果與分析
8.4.1延遲測試覆蓋率
8.4.2長路徑的數量
8.4.3長路徑的長度
8.4.4SDD的數量
8.4.5故障注入與檢測
8.5小結
參考文獻
第4部分SDD的測量標準
第9章小延遲缺陷覆蓋率的測量標準
9.1覆蓋率測量標準的作用
9.2現有指標的概述
9.2.1延遲測試覆蓋率指標
9.2.2統計型延遲質量等級指標
9.3所提齣的SDD測試覆蓋率指標
9.3.1二次SDD測試覆蓋率指標
9.3.2超速測試
9.4實驗結果
9.4.1對係統頻率的敏感性
9.4.2對缺陷分布的敏感性
9.4.3時序敏感與超速的對比
9.5小結
參考文獻
0章總結
參考文獻

作者介紹

文摘

序言

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