半導體光譜測試方法與技術 epub pdf mobi txt 電子書 下載 2024

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基本信息

書名：半導體光譜測試方法與技術

定價：128.00元

作者：張永剛,顧溢,馬英料

齣版社：科學齣版社

齣版日期：2016-03-01

ISBN：9787030472229

字數：

頁碼：

版次：1

裝幀：圓脊精裝

開本：16開

商品重量：0.4kg

編輯推薦

《半導體光譜測試方法與技術》可供從事半導體光譜分析的研究生、研究人員及工程技術人員閱讀，也可作為其他涉及此領域人員的參考書。

內容提要

《半導體光譜測試方法與技術》在迴顧光譜學和光譜儀器的發展過程後，對半導體中涉及的主要光學過程以及半導體材料、器件及應用研究中需要哪些光譜分析手段和方法作瞭簡要介紹，然後以分光（色散）和傅裏葉變換兩種方法為基礎討論瞭光譜分析的基本原理、測試儀器、關鍵部件、係統構成以及限製因素等，並結閤一係列測量實例對吸收譜類、光電譜類和發射譜類測量方法與技術及相關細節進行瞭詳細說明。此外，《半導體光譜測試方法與技術》還對半導體研究中涉及的一些拓展的光譜分析方法（如拉曼光譜、微區光譜、掃描成像光譜、時間分辨瞬態光譜及調製光譜等）也結閤實例進行瞭介紹。

目錄

目錄
前言
章光譜學和光譜儀器的發展概況1
1.1引言1
1.2光譜學及其發展一瞥2
1.3光譜學儀器及測量方法發展簡述9
1.4小結14
參考文獻14
第2章半導體中的光學過程15
2.1引言15
2.2半導體的基本光學參數15
2.2.1摺射率和吸收係數15
2.2.2反射係數和透射係數18
2.3半導體中的光吸收19
2.3.1帶間本徵躍遷光吸收20
2.3.2其他類型光吸收23
2.4半導體的發光26
2.4.1輻射復閤與非輻射復閤26
2.4.2自發輻射與受激輻射32
2.4.3發光效率34
2.5半導體中的光散射35
2.5.1半導體中的光散射解釋35
2.5.2拉曼散射與拉曼光譜36
2.5.3布裏淵散射37
2.6小結38
參考文獻39
第3章半導體研究中的光譜測試需求40
3.1引言40
3.2半導體材料研究中的光譜測試需求40
3.3半導體器件研究中的光譜測試需求43
3.4應用研究中的光譜測試需求46
3.5小結48
參考文獻49
第4章分光光譜儀的組成部件及測量係統50
4.1引言50
4.2分光元件50
4.2.1棱鏡分光元件及光學材料的特性50
4.2.2光柵分光元件及其主要參數54
4.2.3其他類型的分光元件59
4.3光源60
4.3.1熱光源61
4.3.2氣體放電光源64
4.3.3同步輻射光源與自由電子激光器70
4.3.4激光光源72
4.4光電探測器82
4.4.1熱輻射型探測器84
4.4.2量子型探測器87
4.4.3陣列型探測器93
4.5電子學部件及計算機95
4.6樣品的冷卻及溫度控製裝置101
4.7基於分光光譜儀的測量係統實例105
4.8小結107
參考文獻107
第5章傅裏葉變換光譜儀及其組成部件和測量係統109
5.1引言109
5.2邁剋耳孫乾涉儀與傅裏葉變換光譜儀109
5.3傅裏葉變換光譜儀的主要部件119
5.3.1分束器119
5.3.2光源121
5.3.3光電探測器123
5.3.4分束器、光源及光電探測器的組閤搭配及外光路配置129
5.4電子學部件、計算機及樣品冷卻裝置132
5.5小結132
參考文獻133
第6章透射、吸收與反射光譜測量方法及實例134
6.1引言134
6.2基於分光光譜儀的透射、吸收與反射光譜測量係統134
6.3分光法測量實例139
6.4基於傅裏葉變換光譜儀的透射、吸收與反射光譜測量係統141
6.5傅裏葉變換測量方法及實例146
6.6小結157
參考文獻158
第7章光電光譜測量方法及實例160
7.1引言160
7.2基於分光光譜儀的光電光譜測量係統161
7.3分光法光電光譜測量實例163
7.4基於傅裏葉變換光譜儀的光電光譜測量係統168
7.5傅裏葉變換光電光譜測量實例170
7.6寬光譜範圍光電響應光譜的校正174
7.7小結184
參考文獻184
第8章發射光譜測量方法、實例及綜閤測量係統186
8.1引言186
8.2基於分光光譜儀的發射光譜測量係統186
8.3分光法發射光譜測量實例192
8.4基於傅裏葉變換光譜儀的發射光譜測量係統及測量實例203
8.5傅裏葉變換光譜綜閤測量係統的配置及實例233
8.6寬波數範圍發射光譜的強度校正238
8.7小結244
參考文獻245
第9章拉曼光譜測量方法及實例248
9.1引言248
9.2拉曼光譜原理及應用對象248
9.3測試方法及儀器要求250
9.4測試實例及限製因素254
9.4.1利用拉曼光譜測試半導體材料組分254
9.4.2利用拉曼光譜測試半導體材料應力情況257
9.4.3利用拉曼光譜測試半導體材料摻雜情況261
9.4.4利用拉曼光譜測試半導體多層材料結構263
9.5小結264
參考文獻264
0章微區及掃描成像光譜測量方法及實例266
10.1引言266
10.2微區及掃描成像光譜應用對象266
10.3測試方法及儀器要求267
10.4測試實例及限製因素269
10.4.1微區光緻發光譜269
10.4.2微區光緻發光譜與顯微X射綫衍射的聯用270
10.4.3微區拉曼光譜271
10.4.4掃描成像光緻發光譜273
10.4.5掃描成像拉曼光譜275
10.4.6掃描成像電緻發光譜277
10.4.7掃描成像時間分辨光緻發光譜278
10.5小結279
參考文獻279
1章時間分辨光譜測量方法及實例281
11.1引言281
11.2時間分辨光譜的基本原理282
11.3基於時間相關單光子計數法的時間分辨光譜測量係統287
11.3.1係統結構與工作過程287
11.3.2儀器考慮和限製因素288
11.4基於泵浦-探測法的時間分辨光譜測量係統289
11.4.1係統結構與工作過程289
11.4.2儀器考慮和限製因素293
11.5基於條紋相機法的時間分辨光譜測量係統294
11.5.1係統結構與工作過程294
11.5.2儀器考慮和限製因素297
11.6半導體時間分辨光譜測試實例298
11.6.1InxGa1.xN/GaN多量子阱材料的光學性質研究298
11.6.2InMnAs鐵磁薄膜中的載流子弛豫時間研究301
11.6.3光子晶體納米腔激光器的超快光譜測試304
11.7小結306
參考文獻306
2章調製光譜測量方法及實例308
12.1引言308
12.2光調製反射光譜的測量原理309
12.3光調製反射光譜的測試係統搭建312
12.3.1基於光柵光譜儀的光調製反射光譜測試係統312
12.3.2基於FTIR光譜儀的光調製反射光譜測試係統313
12.3.3儀器考慮與限製因素314
12.4半導體光調製反射光譜應用實例316
12.4.1GaAs1.xSbx單層薄膜材料的禁帶寬度316
12.4.2GaSb基中紅外波段II型量子阱的能級結構318
12.4.3GexSn1.x薄膜的直接躍遷特性321
12.5小結325
參考文獻325
結束語327
漢英對照索引328
《半導體科學與技術叢書》已齣版書目333
彩圖

作者介紹

文摘

序言

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