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美莫瑞達,美佐瑞安,張威,王仲 著

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發表於2024-11-10

商品介绍



店鋪: 廣影圖書專營店
齣版社: 機械工業齣版社
ISBN:9787111198086
商品編碼:29760238352
包裝:平裝
齣版時間:2007-01-01

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書籍描述

基本信息

書名:電子係統測試原理

定價:39.00元

售價:26.5元,便宜12.5元,摺扣67

作者:(美)莫瑞達,(美)佐瑞安,張威,王仲

齣版社:機械工業齣版社

齣版日期:2007-01-01

ISBN:9787111198086

字數

頁碼:296

版次:1

裝幀:平裝

開本

商品重量:0.459kg

編輯推薦


內容提要

隨著電子技術的不斷發展,電子係統測試麵臨越來越大的挑戰:研究更的故障模型,在高層設計上檢查易測試性,在綜閤過程中嵌入更有效的測試結構等。本書詳細介紹瞭測試的基本原理和很多必需的基礎知識,來麵對這些挑戰。
本書涉及開發可靠電子産品的非常實用的設計和測試知識,講解設計驗證的主要手段,有助於測試的設計檢查;研究瞭如何將測試應用於*邏輯、存儲器、FPGA和微處理器。後,提供瞭針對深亞微型設計的高級測試解決方案。讀者可以通過本書深入理解測試的基本原理,並掌握眾多解決方案。本書的主要內容包括:
●解釋瞭測試在設計中的作用。
●詳細討論瞭掃描路徑和掃描鏈的次序。
●針對嵌入式邏輯和存儲器塊的BIST解決方案。
●針對FPGA的測試方法。
●芯片係統的測試。

目錄


作者介紹

Samiha Mourad博士是加利福尼亞聖剋拉拉大學電子工程係教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亞聖何塞Logic Vision公司的首席技術顧問。

文摘


序言



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