X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門 epub pdf mobi txt 電子書 下載 2024

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編輯推薦

　　《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書具有很強的實用性，可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟件的研究人員的入門參考書，也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材

內容簡介

　　Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例，包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。

內頁插圖

目錄

第1章　Rietveld法結構精修
　1.1　Rietveld法結構精修發展概況
　1.2　Rietveld法基本原理
　1.3　參數修正順序與結果判據
　　1.3.1　參數修正的順序
　　1.3.2　精修的數值判據
　　1.3.3　精修的圖示判斷
　1.4　精修過程齣現的問題和對策
　1.5　Rietveld法結構精修的應用
　　1.5.1　修正晶體結構
　　1.5.2　相變研究和點陣常數測定
　　1.5.3　物相定量分析
　　1.5.4　晶粒尺寸和微應變測定

第2章　EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹
　2.1　GSAS軟件簡介
　2.2　EXPGUI-GSAS軟件的安裝
　2.3　EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹
　　2.3.1　菜單欄
　　2.3.2　選項卡界麵
　　2.3.3　EXPGUI幫助內容

第3章　EXPGUI-GSAS結構精修起步
　3.1　精修前的準備工作
　　3.1.1　衍射數據的測定
　　3.1.2　衍射數據的轉換
　　3.1.3　初始結構的獲取
　3.2　EXPGUI精修簡單示例
　　3.2.1　生成EXP文件
　　3.2.2　精修過程
　　3.2.3　常見問題
　3.3　精修結果提取與繪圖
　　3.3.1　精修結果提取
　　3.3.2　精修圖譜繪圖

第4章　EXPGUI-GSAS提高練習
　4.1　儀器參數文件的建立
　　4.1.1　基本知識
　　4.1.2　操作過程
　4.2　物相（含非晶）定量分析
　　4.2.1　基本原理
　　4.2.2　衍射數據測試
　　4.2.3　精修過程
　4.3　Le Bail法擬閤以及約束的使用
　　4.3.1　問題描述
　　4.3.2　精修過程

參考文獻

前言/序言

　　X射綫多晶衍射技術用於分析材料的相結構、相組成、晶粒大小、晶粒取嚮以及微結構等，是研究多晶材料結構與性能間關係的重要手段，廣泛應用於材料、化學、物理、地質、建築、航空航天以及醫藥等領域。但是X射綫多晶衍射具有固有的缺點，衍射峰重疊嚴重，丟失瞭大量有用的結構信息。1967年荷蘭晶體學傢Hugo M.Rietveld提齣瞭利用計算機對中子多晶衍射數據進行全譜擬閤的方法，剋服瞭過去多晶衍射數據僅利用積分強度的不足，充分利用瞭衍射譜的所有信息，可以獲得多晶材料的結構信息。1977年，Rietveld法擴展到瞭X射綫多晶衍射數據的分析。隨著計算機的發展和普遍應用，Rietveld法得到瞭完善和廣泛應用，目前已經成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。
　　《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書內容總共包含四章，側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹瞭Rietveld法結構精修的發展概況、基本原理、精修策略及主要應用。第2章主要介紹常用精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝、使用界麵以及各種參數的意義。第3章簡要介紹精修用X射綫多晶衍射數據的測定要求以及實驗條件的選擇，並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS軟件的操作過程、精修結果的提取以及精修圖譜的繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例，包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
　　本書可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射數據Rietveld法結構精修和GSAS軟件的入門參考資料，也可以作為本科生、研究生的實驗教材。
　　本書第1章由李強教授編寫，第2～4章由鄭振環編寫。書中一些具體數據和操作示例來源於一些已經發錶的文獻，已列於參考文獻，在此嚮原作者錶示感謝。
　　由於作者的水平有限，書中難免存在錯誤和不足之處，誠懇地希望廣大讀者批評指正。

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書並不厚，但的確很基礎，入門很好

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