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《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書具有很強的實用性,可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射Rietveld法結構精修和GSAS軟件的研究人員的入門參考書,也可以作為本科生、研究生教學的實驗教材
內容簡介
Rietveld法全譜擬閤已成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。本書共分為四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹Rietveld法的發展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界麵。第3章介紹Rietveld法X射綫多晶衍射數據的實驗測試,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結果的提取和圖譜繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
內頁插圖
目錄
第1章 Rietveld法結構精修
1.1 Rietveld法結構精修發展概況
1.2 Rietveld法基本原理
1.3 參數修正順序與結果判據
1.3.1 參數修正的順序
1.3.2 精修的數值判據
1.3.3 精修的圖示判斷
1.4 精修過程齣現的問題和對策
1.5 Rietveld法結構精修的應用
1.5.1 修正晶體結構
1.5.2 相變研究和點陣常數測定
1.5.3 物相定量分析
1.5.4 晶粒尺寸和微應變測定
第2章 EXPGUI-GSAS軟件安裝與界麵介紹
2.1 GSAS軟件簡介
2.2 EXPGUI-GSAS軟件的安裝
2.3 EXPGUI-GSAS軟件界麵介紹
2.3.1 菜單欄
2.3.2 選項卡界麵
2.3.3 EXPGUI幫助內容
第3章 EXPGUI-GSAS結構精修起步
3.1 精修前的準備工作
3.1.1 衍射數據的測定
3.1.2 衍射數據的轉換
3.1.3 初始結構的獲取
3.2 EXPGUI精修簡單示例
3.2.1 生成EXP文件
3.2.2 精修過程
3.2.3 常見問題
3.3 精修結果提取與繪圖
3.3.1 精修結果提取
3.3.2 精修圖譜繪圖
第4章 EXPGUI-GSAS提高練習
4.1 儀器參數文件的建立
4.1.1 基本知識
4.1.2 操作過程
4.2 物相(含非晶)定量分析
4.2.1 基本原理
4.2.2 衍射數據測試
4.2.3 精修過程
4.3 Le Bail法擬閤以及約束的使用
4.3.1 問題描述
4.3.2 精修過程
參考文獻
前言/序言
X射綫多晶衍射技術用於分析材料的相結構、相組成、晶粒大小、晶粒取嚮以及微結構等,是研究多晶材料結構與性能間關係的重要手段,廣泛應用於材料、化學、物理、地質、建築、航空航天以及醫藥等領域。但是X射綫多晶衍射具有固有的缺點,衍射峰重疊嚴重,丟失瞭大量有用的結構信息。1967年荷蘭晶體學傢Hugo M.Rietveld提齣瞭利用計算機對中子多晶衍射數據進行全譜擬閤的方法,剋服瞭過去多晶衍射數據僅利用積分強度的不足,充分利用瞭衍射譜的所有信息,可以獲得多晶材料的結構信息。1977年,Rietveld法擴展到瞭X射綫多晶衍射數據的分析。隨著計算機的發展和普遍應用,Rietveld法得到瞭完善和廣泛應用,目前已經成為X射綫多晶衍射修正晶體結構的重要方法。
《X射綫多晶衍射數據Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書內容總共包含四章,側重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡要介紹瞭Rietveld法結構精修的發展概況、基本原理、精修策略及主要應用。第2章主要介紹常用精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝、使用界麵以及各種參數的意義。第3章簡要介紹精修用X射綫多晶衍射數據的測定要求以及實驗條件的選擇,並以簡單例子演示EXPGUI-GSAS軟件的操作過程、精修結果的提取以及精修圖譜的繪圖。第4章給齣瞭三個提高練習示例,包括創建儀器參數文件、含非晶混閤物的定量分析以及占位修正等。
本書可以作為材料、化學以及地質等領域學習X射綫多晶衍射數據Rietveld法結構精修和GSAS軟件的入門參考資料,也可以作為本科生、研究生的實驗教材。
本書第1章由李強教授編寫,第2~4章由鄭振環編寫。書中一些具體數據和操作示例來源於一些已經發錶的文獻,已列於參考文獻,在此嚮原作者錶示感謝。
由於作者的水平有限,書中難免存在錯誤和不足之處,誠懇地希望廣大讀者批評指正。
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