電子元器件的可靠性/高等院校電子信息與電氣學科係列規劃教材 epub pdf mobi txt 電子書 下載 2024

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內容簡介

　　《電子元器件的可靠性/高等院校電子信息與電氣學科係列規劃教材》從可靠性科學的曆史入手，引齣可靠性的概念；然後詳細講解可靠性數學、可靠性試驗等內容；由失效分析引入可靠性物理；然後重點講述瞭可靠性應用部分，分為電子元器件工程和電路可靠性設計兩大部分；最後討論瞭可靠性管理。本書的應用部分，立足於目前電子元器件市場，圖文並茂，幫助使用者瞭解電子元器件的種類、使用特點和可靠性應用等內容，可以幫助讀者安全可靠地使用電子元器件，可作為電子信息類專業的教材，也可為從事電路設計、電器維修和電子元器件銷售等工作的工程師提供參考。

目錄

前言
第1章　概述
1.1　可靠性發展階段
1.1.1　國外可靠性的發展史
1.1.2　我國可靠性的發展史
1.1.3　可靠性發展的階段
1.2　質量觀與可靠性概念
1.2.1　當代質量觀
1.2.2　可靠性的定義
1.2.3　經濟性和安全性
1.3　可靠性工作概述
1.3.1　元器件工程
1.3.2　可靠性的工作內容
1.3.3　可靠性數學
1.3.4　可靠性物理
1.3.5　可靠性工程
1.3.6　可靠性設計和可靠性預計
1.3.7　可靠性試驗
1.3.8　教育交流
習題
第2章　電子元器件的可靠性數學
2.1　可靠性數學的重要性
2.1.1　可靠性問題的復雜化
2.1.2　電子元器件失效的概率性
2.2　可靠性數據的收集
2.3　可靠性基本術語和主要特徵量
2.3.1　可靠度R或可靠度函數R(t)
2.3.2　失效概率或纍積失效概率F(t)
2.3.3　失效率與瞬時失效率λ(t)
2.3.4　失效密度或失效密度函數f(t)
2.3.5　壽命
2.3.6　小結
2.4　電子元器件的失效規律
2.4.1　浴盆麯綫
2.4.2　早期失效期
2.4.3　偶然失效期
2.4.4　耗損失效期
2.5　威布爾分布及其概率紙的結構和用法
2.5.1　威布爾分布函數
2.5.2　威布爾概率紙
2.5.3　威布爾概率紙的應用
2.6　指數分布--偶然失效期的失效分布
2.7　正態分布或高斯分布
2.7.1　正態分布規律
2.7.2　失效率的狀態分布
2.7.3　正態分布概率紙
2.8　計算機威布爾概率紙的構造及軟件分析法
習題
第3章　可靠性試驗
3.1　可靠性試驗的意義
3.1.1　可靠性試驗的目的與內容
3.1.2　可靠性試驗的分類
3.1.3　失效判據
3.1.4　用於可靠性試驗的技術標準
3.2　抽樣理論及抽樣方法
3.2.1　抽樣檢驗的理論基礎
3.2.2　抽樣的特性麯綫
3.2.3　抽樣方案及程序
3.3　可靠性篩選試驗
3.3.1　可靠性篩選的種類
3.3.2　篩選方法的評價
3.3.3　篩選方法的理論基礎
3.3.4　常見可靠性篩選試驗的作用原理及條件
3.3.5　篩選項目及篩選應力的確定原則
3.3.6　篩選應力大小及篩選時間的確定
3.3.7　失效模式與篩選試驗方法的關係
3.3.8　典型産品可靠性篩選方案
3.4　失效分布類型的檢驗
3.4.1　分布擬閤流程
3.4.2　χ2檢驗法
3.4.3　K-S檢驗法
3.5　指數分布情況的壽命試驗
3.5.1　試驗方案的確定
3.5.2　壽命試驗數據的統計分析--點估計和區間估計
3.6　恒定應力加速壽命試驗
3.6.1　加速壽命試驗的提齣
3.6.2　加速壽命試驗的理論基礎
3.6.3　加速壽命試驗方案的考慮
3.6.4　加速壽命試驗的數據處理
3.6.5　加速係數的確定
3.7　電子元器件失效率鑒定試驗
3.7.1　置信度與失效率
3.7.2　試驗方案的要求
3.7.3　失效率試驗程序
習題
第4章　可靠性物理
4.1　失效物理的基礎概念
4.1.1　失效物理的目標和作用
4.1.2　材料的結構、應力和失效
4.2　失效物理模型和應用
4.2.1　失效物理模型
4.2.2　失效物理的應用
4.3　氧化層中的電荷
4.3.1　電荷的性質與來源
4.3.2　對可靠性的影響
4.3.3　減少氧化層電荷的措施
4.4　熱載流子效應
4.4.1　熱載流子效應對器件性能的影響
4.4.2　電荷汞技術
4.4.3　退化量的錶徵
4.4.4　影響因素
4.4.5　改進措施
4.5　柵氧擊穿
4.5.1　擊穿情況
4.5.2　擊穿機理
4.5.3　擊穿的數學模型與模擬
4.5.4　薄柵氧化層與高電場有關的物理/統計模型
4.5.5　改進措施
4.6　電遷移
4.6.1　電遷移原理
4.6.2　影響因素
4.6.3　失效模式
4.6.4　抗電遷移措施
4.6.5　鋁膜的再構
4.6.6　應力遷移
4.7　與鋁有關的界麵效應
4.7.1　鋁與二氧化矽
4.7.2　鋁與矽
4.7.3　金與鋁
4.8　熱電效應
4.8.1　熱阻
4.8.2　熱應力
4.8.3　熱穩定因子
4.8.4　二次擊穿
4.9　CMOS電路的閂鎖效應
4.9.1　物理過程
4.9.2　檢測方法
4.9.3　抑製閂鎖效應的方法
4.10　靜電放電損傷
4.10.1　靜電的來源
4.10.2　損傷機理與部位
4.10.3　靜電損傷模式
4.10.4　靜電損傷模型及靜電損傷靈敏度
4.10.5　防護措施
4.11　輻射損傷
4.11.1　輻射來源
4.11.2　輻照效應
4.11.3　核電磁脈衝損傷
4.11.4　抗核加固
4.12　軟誤差
4.12.1　産生機理
4.12.2　臨界電荷
4.12.3　改進措施
4.13　水汽的危害
4.13.1　水汽的來源與作用
4.13.2　鋁布綫的腐蝕
4.13.3　外引綫的銹蝕
4.13.4　電特性退化
4.13.5　防止腐蝕和性能退化的改進措施
4.14　失效分析方法
4.14.1　失效分析的目的和內容
4.14.2　失效分析程序和失效分析的一般原則
4.14.3　常用微觀分析設備概述
4.14.4　電子元器件的失效機理與分析
習題
第5章　基礎元器件的可靠性
5.1　電阻器和電位器、保險電阻的可靠性
5.1.1　電阻器
5.1.2　電位器
5.1.3　熔斷電阻器
5.1.4　電阻器與電位器的可靠性設計
5.1.5　電阻器與電位器的失效機理與分析
5.2　電容器的可靠性
5.2.1　按材料分類的常見電容器
5.2.2　按結構、容值變化等分類的常見電容器
5.2.3　可靠性應用
5.2.4　電容器的可靠性設計
5.2.5　電容器的失效機理與分析
5.3　連接類器件的可靠性
5.3.1　連接器
5.3.2　繼電器
5.3.3　連接類器件的失效機理與分析
5.4　磁性元件的可靠性
5.4.1　磁性材料及其應用
5.4.2　電感器
5.4.3　變壓器
5.4.4　微特電機
5.4.5　磁性元件的失效機理與分析
習題
第6章　特殊元器件和非工作環節的可靠性
6.1　化學、物理電源的可靠性
6.1.1　化學電源
6.1.2　物理電源
6.1.3　化學、物理電源的可靠性設計
6.1.4　電池的可靠性測試
6.1.5　可靠性應用
6.1.6　鋰離子電池失效分析
6.2　電路中的防護元件
6.2.1　瞬變電壓抑製二極管
6.2.2　壓敏電阻器
6.2.3　鐵氧體磁珠
6.2.4　PTC和NTC熱敏電阻器
6.2.5　電花隙防護器
6.2.6　避雷器
6.3　電子元器件安裝的可靠性
6.3.1　引綫成形與切斷
6.3.2　在印製電路闆上安裝器件
6.3.3　焊接
6.3.4　器件在整機係統中的布局
6.4　電子元器件運輸、儲存和測量的可靠性
6.4.1　運輸
6.4.2　儲存
6.4.3　測量
6.4.4　舉例
習題
第7章　電子元器件的可靠性應用
7.1　防浪湧應用
7.1.1　浪湧過電應力的來源
7.1.2　電路防護設計
7.1.3　TTL電路防浪湧乾擾
7.2　防噪聲應用
7.2.1　接地不良引入的噪聲
7.2.2　靜電耦閤和電磁耦閤産生的噪聲
7.2.3　串擾引入的噪聲
7.3　抗輻射應用
7.3.1　抗輻射加固電子係統的器件選擇
7.3.2　係統設計中的抗輻射措施
7.4　防靜電應用
7.4.1　器件使用環境的防靜電措施
7.4.2　器件使用者的防靜電措施
7.4.3　器件包裝、運送和儲存過程中的防靜電措施
7.5　電子元器件在電路闆中的可靠性布局
7.5.1　電磁兼容性設計
7.5.2　接地設計
7.5.3　熱設計
7.6　電子元器件在電路設計中的可靠性應用原則
7.6.1　電路簡化應用原則
7.6.2　降額應用原則
7.6.3　冗餘應用原則
7.6.4　靈敏度應用原則
7.6.5　最壞情況應用原則
習題
第8章　可靠性管理
8.1　産品的可靠性管理
8.1.1　可靠性計劃
8.1.2　設計階段的可靠性管理
8.2　生産的可靠性管理
8.2.1　組織與人員管理
8.2.2　材料及外協加工件管理
8.2.3　儀器設備管理
8.2.4　設計、工藝及工藝控製管理
8.2.5　文件、記錄與信息管理
8.2.6　試驗評價與失效分析管理
8.3　可靠性保證
8.3.1　可靠性數據資料管理
8.3.2　可靠性監督和保證體係
8.3.3　組織保證
8.3.4　標準化保證
8.3.5　計量工作保證
習題
附錄　K-S檢驗的臨界值Dn,α
參考文獻

前言/序言

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